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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試半導(dǎo)體多功能測(cè)試
產(chǎn)品分類
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。
更新時(shí)間：2025-06-24
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：476
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：545
WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，具備無接觸等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：658公司郵箱： qgao@buybm.com
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