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PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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顯微分光膜厚儀的智能化功能與操作體驗

顯微分光膜厚儀是一種高精度的測量儀器

相干反斯托克斯拉曼光譜儀的優(yōu)點與應用領域

半導體激光器定義及產品描述

顯微分光膜厚儀

OPTM 系列顯微分光膜厚儀$n 測量項目：$n$n? 絕.對反射率測量$n$n? 多層膜解析$n$n? 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

更新時間：2025-06-24

產品型號：OPTM 系列

瀏覽量：7665
高速相位差測量裝置 RE-200

● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理） ● 無驅動部，重復再現(xiàn)性高 ● 設置的測量項目少，測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長 ● Rth測量、全quan方位角測量（需要option的自動旋轉傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統(tǒng)屬特注。）

更新時間：2025-06-24

產品型號：

瀏覽量：816
高速LED光學特性儀 LE series

●與產線的控制信號同步 ●通過光纖的自由的測試系統(tǒng) ●實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400） ●同以往的產品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型

更新時間：2025-06-24

產品型號：

瀏覽量：738
高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000

可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產生量子產率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。

更新時間：2025-06-24

產品型號：

瀏覽量：803
高感度分光輻射亮度計 HS-1000

采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨du特光學系統(tǒng)降低偏振誤差（1％），并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量可以執(zhí)行最短1秒的高速測量，包括通信時間。（在連續(xù)測量的情況下，可以更快的進行測量，最短約20毫秒/次）

更新時間：2025-06-24

產品型號：

瀏覽量：817
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發(fā)光采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學系統(tǒng)

更新時間：2025-06-24

產品型號：

瀏覽量：1098

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