高光譜測試系統(tǒng)是高光譜相機、顯微鏡、計算機等結合的新型應用方式，借助顯微鏡結構在不同放大倍率下把待測試樣品的微觀尺度進一步的提升的特點，能夠充分觀察物質在其微觀尺度上的圖像信息，從而進一步獲取物質的光譜信息，這樣充分利用高光譜在光譜和圖像方面的優(yōu)勢，結合顯微機構系統(tǒng)，把高光譜技術的應用又進一步進行了拓展。
高光譜測試系統(tǒng)的測試原理及方法：
高光譜成像技術是近二十年來發(fā)展起來的基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術，其突出的應用是遙感探測領域，并在越來越多的民用領域有著更大的應用前景。它集中了光學、光電子學、電子學、信息處理、計算機科學等領域的先進技術，是傳統(tǒng)的二維成像技術和光譜技術有機的結合在一起的一門新興技術。
高光譜成像技術的定義是在多光譜成像的基礎上，在從紫外到近紅外(200-2500nm)的光譜范圍內，利用成像光譜儀，在光譜覆蓋范圍內的數(shù)十或數(shù)百條光譜波段對目標物體連續(xù)成像。在獲得物體空間特征成像的同時，也獲得了被測物體的光譜信息。
光譜儀的光譜分辨率由狹縫的寬度和光學光譜儀產生的線性色散確定。最小光譜分辨率是由光學系統(tǒng)的成像性能確定的(點擴展大小)。
成像過程為：每次成一條線上的像后(X方向)，在檢測系統(tǒng)輸送帶前進的過程中，排列的探測器掃出一條帶狀軌跡從而完成縱向掃描(Y方向)。綜合橫縱掃描信息就可以得到樣品的三維高光譜圖像數(shù)據(jù)。
利用顯微高光譜系統(tǒng)在10X倍的物鏡下能夠觀察到LED光源上的微觀構造，并且能夠準確的測試到不同led光源對應的特征波長，而且圖像也非常的清晰(實際測試時樣品并非*平整)，通過焦距調試，能夠凸顯出光源自身的一些特征信息。
更新時間：2022-05-25
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